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發(fā)布時間:2024-08-04
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簡要描述:
芯片研發(fā)小型高低溫測試箱電池恒溫循環(huán)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗,是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備,特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。
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